Ieee Design & Test SCIE
國際簡稱：IEEE DES TEST 參考譯名：IEEE設計與測試
主要研究方向：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 非預警期刊 審稿周期：
《IEEE設計與測試》(Ieee Design & Test)是一本由IEEE Computer Society出版的以COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC為研究特色的國際期刊，發表該領域相關的原創研究文章、評論文章和綜述文章，及時報道該領域相關理論、實踐和應用學科的最新發現，旨在促進該學科領域科學信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預警名單。
IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods, and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews, and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy-efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.
Ieee Design & Test期刊信息
- ISSN：2168-2356
- 出版語言：English
- 是否OA：未開放
- E-ISSN：2168-2364
- 出版地區：UNITED STATES
- 是否預警：否
- 出版商：IEEE Computer Society
- 出版周期：6 issues/year
- 創刊時間：2013
- 開源占比：0.0625
- Gold OA文章占比：6.08%
- OA被引用占比：0
- 出版國人文章占比：0
- 出版撤稿占比：0
- 研究類文章占比：100.00%
Ieee Design & Test CiteScore評價數據（2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指數 | ||||||||||||||||
| 3.8 | 0.489 | 0.757 |
|
名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發表文獻的平均受引用次數，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個指標。當年CiteScore 的計算依據是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數除以該期刊近四年發表的文獻數。例如，2022年的 CiteScore 計算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發表的文件的引用數量÷2019-2022年發布的文獻數量 注：文獻類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節和數據論文。
Ieee Design & Test中科院評價數據
中科院 2023年12月升級版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 4區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區 4區 |
中科院 2022年12月升級版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 4區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區 4區 |
中科院 2021年12月舊的升級版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 3區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區 4區 |
中科院 2021年12月基礎版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 4區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區 4區 |
中科院 2021年12月升級版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 3區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區 4區 |
中科院 2020年12月舊的升級版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術 | 3區 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 3區 3區 |
Ieee Design & Test JCR評價數據（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 59 |
29.7% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 40 / 59 |
33.05% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 217 / 354 |
38.84% |
Ieee Design & Test歷年數據統計
影響因子
中科院分區
Ieee Design & Test中國學者發文選摘
-
1、A DVFS Design and Simulation Framework Using Machine Learning Models
Author: Zhuo, Cheng; Gao, Di; Cao, Yuan; Shen, Tianhao; Zhang, Li; Zhou, Jinfang; Yin, Xunzhao
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 52-61. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3119279
-
2、Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test
Author: Ravelo, Blaise; Douyere, Alexandre; Liu, Yang; Rahajandraibe, Wenceslas; Wan, Fayu; Chan, George; Guerin, Mathieu
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 96-104. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3164337
-
3、Machine Learning in Advanced IC Design: A Methodological Survey
Author: Chen, Tinghuan; Zhang, Grace Li; Yu, Bei; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 17-33. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3216799
-
4、Topology-Aided Multicorner Timing Predictor for Wide Voltage Design
Author: Cao, Peng; Yang, Tai; Wang, Kai; Bao, Wei; Yan, Hao
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 62-69. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3117745
-
5、Multiplication Circuit Architecture for Error- Tolerant CNN-Based Keywords Speech Recognition
Author: Liu, Bo; Cai, Hao; Zhang, Zilong; Ding, Xiaoling; Zhang, Renyuan; Gong, Yu; Wang, Zhen; Ge, Wei; Yang, Jun
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 26-35. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3135346
-
6、Dependable STT-MRAM With Emerging Approximation and Speculation Paradigms
Author: Cai, Hao; Hou, Yaoru; Zhang, Mengdi; Liu, Bo; Naviner, Lirida Alves de Barros
Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 17-25. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3120330
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中科院 1區 JCR Q1
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科學儀器回顧
Review Of Scientific Instruments
中科院 4區 JCR Q3
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