收藏該雜志
同大類學(xué)科其它級(jí)別期刊：
中科院 1區(qū) 期刊 JCR Q1 期刊 中科院 2區(qū) 期刊 JCR Q2 期刊 中科院 3區(qū) 期刊 JCR Q3 期刊 中科院 4區(qū) 期刊 JCR Q4 期刊Integration-the Vlsi Journal SCIE
國(guó)際簡(jiǎn)稱：INTEGRATION 參考譯名：集成-Vlsi Journal
主要研究方向：工程技術(shù)-工程：電子與電氣 非預(yù)警期刊 審稿周期： 12周，或約稿 約12.8周
《集成-Vlsi Journal》(Integration-the Vlsi Journal)是一本由Elsevier出版的以工程技術(shù)-工程：電子與電氣為研究特色的國(guó)際期刊，發(fā)表該領(lǐng)域相關(guān)的原創(chuàng)研究文章、評(píng)論文章和綜述文章，及時(shí)報(bào)道該領(lǐng)域相關(guān)理論、實(shí)踐和應(yīng)用學(xué)科的最新發(fā)現(xiàn)，旨在促進(jìn)該學(xué)科領(lǐng)域科學(xué)信息的快速交流。該期刊是一本未開(kāi)放期刊，近三年沒(méi)有被列入預(yù)警名單。
- 3區(qū) 中科院分區(qū)
- Q3 JCR分區(qū)
- 128 年發(fā)文量
- 2.2 IF影響因子
- 未開(kāi)放 是否OA
- 33 H-index
- 1983 創(chuàng)刊年份
- Quarterly 出版周期
- English 出版語(yǔ)言
Integration's aim is to cover every aspect of the VLSI area, with an emphasis on cross-fertilization between various fields of science, and the design, verification, test and applications of integrated circuits and systems, as well as closely related topics in process and device technologies. Individual issues will feature peer-reviewed tutorials and articles as well as reviews of recent publications. The intended coverage of the journal can be assessed by examining the following (non-exclusive) list of topics:
Specification methods and languages; Analog/Digital Integrated Circuits and Systems; VLSI architectures; Algorithms, methods and tools for modeling, simulation, synthesis and verification of integrated circuits and systems of any complexity; Embedded systems; High-level synthesis for VLSI systems; Logic synthesis and finite automata; Testing, design-for-test and test generation algorithms; Physical design; Formal verification; Algorithms implemented in VLSI systems; Systems engineering; Heterogeneous systems.
Integration-the Vlsi Journal期刊信息
- ISSN：0167-9260
- 出版語(yǔ)言：English
- 是否OA：未開(kāi)放
- E-ISSN：1872-7522
- 出版地區(qū)：NETHERLANDS
- 是否預(yù)警：否
- 出版商：Elsevier
- 出版周期：Quarterly
- 創(chuàng)刊時(shí)間：1983
- 開(kāi)源占比：0.0209
- Gold OA文章占比：5.26%
- OA被引用占比：0.0510...
- 出版國(guó)人文章占比：0.16
- 出版撤稿占比：0
- 研究類文章占比：100.00%
Integration-the Vlsi Journal CiteScore評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指數(shù) | ||||||||||||||||
| 3.8 | 0.3 | 0.829 |
|
名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個(gè)指標(biāo)。當(dāng)年CiteScore 的計(jì)算依據(jù)是期刊最近4年（含計(jì)算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻(xiàn)數(shù)。例如，2022年的 CiteScore 計(jì)算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對(duì)2019-2022年發(fā)表的文件的引用數(shù)量÷2019-2022年發(fā)布的文獻(xiàn)數(shù)量 注：文獻(xiàn)類型包括：文章、評(píng)論、會(huì)議論文、書(shū)籍章節(jié)和數(shù)據(jù)論文。
Integration-the Vlsi Journal中科院評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)
中科院 2023年12月升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 3區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
中科院 2022年12月升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 4區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
中科院 2021年12月舊的升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 4區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
中科院 2021年12月基礎(chǔ)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 4區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
中科院 2021年12月升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 4區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
中科院 2020年12月舊的升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | ||
| 否 | 否 | 工程技術(shù) | 3區(qū) | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī)：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) 4區(qū) |
Integration-the Vlsi Journal JCR評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 32 / 59 |
46.6% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 183 / 352 |
48.2% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 39 / 59 |
34.75% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 212 / 354 |
40.25% |
Integration-the Vlsi Journal歷年數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
影響因子
中科院分區(qū)
Integration-the Vlsi Journal中國(guó)學(xué)者發(fā)文選摘
-
1、An efficient SRAM yield analysis method based on scaled-sigma adaptive importance sampling with meta-model accelerated
Author: Pang, Liang; Wang, Ziqi; Shi, Rui; Yao, Mengyun; Shi, Xiao; Yan, Hao; Shi, Longxin
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 89, Issue , pp. 155-167. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.11.015
-
2、Design-for-reliability and on-the-fly fault tolerance procedure for paper-based digital microfluidic biochips with multiple faults
Author: Li, Jian-De; Wang, Sying-Jyan; Li, Katherine Shu-Min; Ho, Tsung-Yi
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 89, Issue , pp. 185-196. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.11.013
-
3、A transparent virtual channel power gating method for on-chip network routers
Author: Zhou, Wu; Ouyang, Yiming; Li, Jianhua; Xu, Dongyu
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 286-297. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.10.004
-
4、The study of TSV-induced and strained silicon-enhanced stress in 3D-ICs
Author: Zhou, Jindong; Chen, Yuyang; Jing, Youliang; Zhou, Pingqiang
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 196-202. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.09.017
-
5、An accelerated modulus-based matrix splitting iteration method for mixed-size cell circuits legalization
Author: Zhou, Chen-Can; Qiu, Jie; Cao, Yang; Yang, Geng-Chen; Shen, Qin-Qin; Shi, Quan
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 20-31. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.08.010
-
6、A 28-GHz wideband power amplifier with dual-pole tuning superposition technique in 55-nm RF CMOS
Author: Zhao, Yunan; Hou, Haomin; Zhang, Shuhao; Wang, Hao; Chang, Sheng; Huang, Qijun; He, Jin
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 101-107. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.09.007
-
7、A fine-grained mixed precision DNN accelerator using a two-stage big-little core RISC-V MCU
Author: Zhang, Li; Lv, Qishen; Gao, Di; Zhou, Xian; Meng, Wenchao; Yang, Qinmin; Zhuo, Cheng
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 241-248. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.10.006
-
8、A fast piecewise image encryption scheme combining NC1DNSM and P-Box
Author: Zhang, Chenkai; Du, Baoxiang
Journal: INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL. 2023; Vol. 88, Issue , pp. 328-342. DOI: 10.1016/j.vlsi.2022.10.003
Integration-the Vlsi Journal同類期刊
-
應(yīng)用熱工
Applied Thermal Engineering
中科院 2區(qū) JCR Q1
-
熱科學(xué)與工程進(jìn)展
Thermal Science And Engineering Progress
中科院 3區(qū) JCR Q1
-
巖土學(xué)報(bào)
Acta Geotechnica
中科院 1區(qū) JCR Q1
-
IEEE工業(yè)電子交易
Ieee Transactions On Industrial Electronics
中科院 1區(qū) JCR Q1
-
分離純化技術(shù)
Separation And Purification Technology
中科院 1區(qū) JCR Q1
-
工程快報(bào)
Engineering Letters
中科院 4區(qū) JCR Q4
-
國(guó)際熱科學(xué)雜志
International Journal Of Thermal Sciences
中科院 2區(qū) JCR Q1
-
科學(xué)儀器回顧
Review Of Scientific Instruments
中科院 4區(qū) JCR Q3
免責(zé)聲明
若用戶需要出版服務(wù)，請(qǐng)聯(lián)系出版商：ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。